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基片分辨率檢測(cè)儀
用 途：基片分辨率檢測(cè)系統(tǒng)是用來(lái)檢測(cè)光學(xué)原件（基片）分辨率指標(biāo)的檢測(cè)儀器，儀器自帶CCD成像系統(tǒng)，可代替人眼對(duì)被檢光學(xué)原件的分辨率進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)，消除了由于個(gè)人視覺(jué)不同所帶來(lái)的檢測(cè)誤差，適用于批量光學(xué)原件的分辨率檢測(cè)。
技術(shù)參數(shù)：
物鏡焦距：500mm
有效口徑：Φ80mm
物鏡分辨率：1.8"
配 置：
1、F500平行光管（Φ80口徑）/2根
2、分辨率板（NO.3號(hào)）/1塊
3、模擬CCD/1件
4、簡(jiǎn)易支架/2件
5、可調(diào)電源/1件
6、備用燈泡/2只
上一個(gè)
平場(chǎng)電子顯微鏡
下一個(gè)
絕對(duì)測(cè)角儀
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